日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L

產(chǎn)品型號：

所屬分類：電阻檢測儀

產(chǎn)品時間：2024-09-11

簡要描述：日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L
超小尺寸芯片（0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...）
兼容精密電阻！
適用于 B、C、D、F、G、J、K 類、插入式、melf、徑向和軸向電阻分選機和編帶機

詳細說明：

日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L

超小尺寸芯片 (0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...)兼容精密電阻！

適用于 B、C、D、F、G、J、K 類、插入式、melf、徑向和軸向電阻分選機和編帶機

特征

日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L

測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C），校準后90天[校準后1年：雙倍]

測量范圍	標準值設(shè)定范圍	測量電流	測量精度^*
測量范圍	標準值設(shè)定范圍	測量電流	慢 [高分辨率]	慢 [Lo-Reso.]	快速 [Lo-Reso.]
100mΩ	5mΩ-100mΩ	180mA	±0.01%±α±10d以內(nèi)	±0.02%±α±2d以內(nèi)	± 0.03% ± 2α ± 3d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω	100.1mΩ～1Ω	90mA	± 0.006% ± 2β ± 3 以內(nèi)	±0.02%±α±1d以內(nèi)	± 0.02% α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω	1.001Ω～10Ω	9mA	± 0.006% ± 2β ± 3 以內(nèi)	±0.02%±α±1d以內(nèi)	± 0.02% α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	9mA	±0.005%±3d以內(nèi)	±0.02%±1d以內(nèi)	± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	0.9mA
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.45mA
100kΩ	10.01kΩ-100kΩ	45μA
1兆歐	100.1kΩ～1MΩ	4.5μA	±0.009%±3d以內(nèi)		± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.45μA	±0.02%±10d以內(nèi)	±0.03%±1d以內(nèi)	± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ	10.01MΩ-100MΩ	45nA	±0.1%±20d以內(nèi)	±0.1%±2d以內(nèi)	---

* D：位數(shù)，n：積分時間（msec.），Apply Lo-Reso.測量絕對值時（加±1d）
測量百分比時：α=（100/標準設(shè)定值mΩ）×0.01%，β=（量程/ 標準設(shè)定值) x 0.001%,
測量絕對值時：α, β = 0
* *屏蔽狀態(tài)下的精度

測量時間	外部啟動		自由奔跑
	慢	快速地	慢	快速地
	AC1 周期 + 7.5msec. ~ 408msec.	大約 11.5 毫秒 ~ 408 毫秒。	約5次/秒～約2次/秒	約10次/秒～約2次/秒

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