日本中央電機cew微缺陷檢測設(shè)備

產(chǎn)品型號：

所屬分類：探傷儀

產(chǎn)品時間：2024-09-09

簡要描述：日本中央電機cew微缺陷檢測設(shè)備
使用高分辨率相機和高精度XY載物臺的二維檢查設(shè)備。
適用于檢查光學(xué)膜，片，觸摸面板等的表面劃痕，異物和缺陷。

詳細說明：

日本中央電機cew微缺陷檢測設(shè)備

使用高分辨率相機和高精度XY載物臺的二維檢查設(shè)備。
適用于檢查光學(xué)膜，片，觸摸面板等的表面劃痕，異物和缺陷。
光學(xué)分辨率為“ 1.8μm”，可以進行超高清檢查。
它也可以用于尺寸測量，并且可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。

特征

檢查數(shù)據(jù)和圖像自動保存
相機像素數(shù)：900萬像素
高光學(xué)分辨率（1.8μm）使精美的檢查點看起來更漂亮
非常適合檢查觸摸屏的外圍電極，印刷電路板上的細線斷線和短路

檢查使用

用于檢查觸摸屏和異物等缺陷！

觸摸屏周邊電極缺陷檢查
板材表面劃痕，異物檢查
板缺陷檢查

規(guī)格

外形尺寸	1000 x 1200 x 1080毫米
重量	400公斤
測量范圍	600 x 400毫米
被測物體的最大高度	30毫米
光學(xué)分辨率	1.8微米
控制分辨率	1.0微米
重復(fù)定位精度	±5微米
光學(xué)倍率	2次
視場	6.3毫米x 5.0毫米
監(jiān)視器	TFT 23.6型寬分辨率：1920 x 1080像素
相機	CCD單色1英寸像素數(shù)：900萬像素
鏡片	遠心鏡頭 WD：65毫米景深0.095毫米
照明	同軸落射照明
電源	AC100V 50/60赫茲
開發(fā)語言	LabVIEW

日本中央電機cew微缺陷檢測設(shè)備

光學(xué)分解能1.8μｍ?スピード検査　タッチパネス周辺電極?基板表面など、微細欠陥の検査が可能

高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査裝置です。
光學(xué)フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。
光學(xué)分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。
寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。